相控陣檢測是無損檢測技術之一。今天，我們主要介紹相控陣檢測的擴展部分——相控陣天線陣。相控陣天線的設計主要是幅度、相位分布和陣元阻抗。陣列大小由最窄波束寬度的寬度和旁瓣電平決定。相位分布主要取決于束流要求。由于陣元方向圖和阻抗的限制，平面相控陣的最大掃描范圍通常為 ± 60 ° ，為了獲得半球形掃描，需要增加一個球面透鏡，如果只要求掃描方向圖的最大值在空間上移動(掃描) ，則只需要線性相位分布。圖案的最大方向垂直于等相面。

       使用數字移相器時，除少數特殊角度外，無法得到精確的線性相位分布。此時，寄生副瓣會在圖形的某些方向上出現，其大小與特定的相位分布有關。為了滿足這一特殊要求，需要采用方向圖綜合法預先計算所需的陣列相位分布。例如，將陣列劃分為若干個區域，每個區域可視為一個獨立的陣列來設計陣列的方向圖。

       為了簡化饋電結構，一些相控陣天線具有相等的幅度。為了克服高旁瓣電平在等幅分布情況下的缺點，可采用密度加權法，即有源輻射單元在陣列上的分布不均勻，分布密度按一定規律變化。為了改善輻射單元的阻抗特性，在有源輻射單元的邊緣放置一個無饋電的被動輻射單元，相控陣天線的輻射單元數目較多。當故障單元數小于5% 時，天線陣列的性能不受影響，可靠性高，相控陣天線在雷達中使用時，波束控制的靈活性大大提高，可以制成多功能雷達，使一臺雷達發揮多臺常規雷達的作用。

        隨著微波集成電路技術的發展和新型移相器的出現，相控陣天線的成本不斷降低，體積越來越小，重量也進一步降低。