當(dāng)使用相控陣檢測(cè)探頭來(lái)檢測(cè)焊縫時(shí)，無(wú)需像普通的單個(gè)探頭那樣頻繁地在焊縫的兩側(cè)來(lái)回移動(dòng)。相控陣探頭沿平行于焊縫的焊縫長(zhǎng)度方向進(jìn)行線性掃描，以進(jìn)行全體積檢查。掃描方法可以通過(guò)配備有陣列探頭的機(jī)械掃描儀沿著精確定位的軌跡完成，也可以手動(dòng)完成，可以實(shí)現(xiàn)快速檢測(cè)，檢測(cè)效率高。

超聲相控陣技術(shù)的基本思想來(lái)自雷達(dá)電磁波相控陣技術(shù)。相控陣?yán)走_(dá)由許多排列成陣列的輻射單元組成。通過(guò)控制陣列天線中每個(gè)元件的幅度和相位，可以調(diào)節(jié)電磁波的輻射方向，并在一定的空間范圍內(nèi)合成了靈活快速聚焦的掃描雷達(dá)波束。超聲相控陣換能器由幾個(gè)獨(dú)立的壓電晶片組成。根據(jù)某些規(guī)則和順序，每個(gè)芯片單元都會(huì)被電子系統(tǒng)激勵(lì)，以調(diào)整聚焦的位置和方向。

無(wú)損檢測(cè)意味著在現(xiàn)代方法的幫助下，諸如被測(cè)物的形狀，結(jié)構(gòu)和結(jié)構(gòu)，缺陷的類型，被測(cè)物的結(jié)構(gòu)，檢查并測(cè)試由缺陷，結(jié)構(gòu)，結(jié)構(gòu)和試件的結(jié)構(gòu)引起的內(nèi)部缺陷分布及其變化。無(wú)損檢測(cè)（NDT）是工業(yè)發(fā)展必不可少的有效工具。它在一定程度上反映了一個(gè)國(guó)家的工業(yè)發(fā)展水平。無(wú)損檢測(cè)的重要性已得到認(rèn)可，主要包括射線照相測(cè)試（RT），超聲測(cè)試（UT），磁粉測(cè)試（MT）和液體滲透劑測(cè)試（PT）。其他無(wú)損測(cè)試方法包括渦流測(cè)試（ECT），聲發(fā)射測(cè)試（AE），熱成像/紅外（TIR），泄漏測(cè)試（LT），交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)（acfmt），磁通量泄漏測(cè)試（MFL）現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試方法（RFT），超聲時(shí)差方法（TOFD）等。